Исследование поверхности твердых тел методом сканирующей туннельной микроскопии (СТМ). Описание лабораторной работы
Book information
Description
В лабораторной работе рассматриваются принципы работы сканирующего туннельного микроскопа и методика исследования топографии и туннельной спектроскопии поверхности твердых тел. Предназначена для студентов специализации ''Физика твердотельных наноструктур'', обучающихся по специальности 200.200 ''Микроэлектроника и полупроводниковые приборы''. Описание лабораторной работы подготовлено в Научно-образовательном центре сканирующей зондовой микроскопии ННГУ в рамках совместной Российско-американской программы ''Фундаментальные исследования и высшее образование''
Similar books
Исследование оптических свойств поверхности твердых тел методом ближнепольной сканирующей оптической микроскопии (БСОМ): Описание лабораторной работы
2003 · PDF
Исследование топографии поверхностных твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме: Описание лабораторной работы
2003 · PDF
Сканирующая зондовая, спектроскопия и литография
Оценка качества в системе маркетинга услуг
Фотоэлектрические свойства наноструктур GeSi/Si
Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии
Фотоэлектрическая диагностика квантово-размерных гетеронаноструктур
Исследование инфракрасных фоторезисторов на внутризонных переходах в квантовых ямах InGaAs/GaAs: Описание лабораторной работы
2006 · PDF