Исследование инфракрасных фоторезисторов на внутризонных переходах в квантовых ямах InGaAs/GaAs: Описание лабораторной работы
Book information
Description
В работе описаны физические основы межподзонного поглощения излучения в квантовых ямах, принцип работы основанных на этом явлении резистивных инфракрасных фотодетекторов и методика исследования их спектральной характеристики на фурье-спектрометре. Для студентов вузов, обучающихся по специальности 202000 ''Нанотехнологии в микроэлектронике''. Подготовлено на кафедре физики полупроводников и оптоэлектроники ННГУ
Similar books
Фотоэлектрическая диагностика квантово-размерных гетеронаноструктур
Исследование квантово-размерного эффекта Штарка в гетеронаноструктурах с квантовыми ямами InGaAs/GaAs методом фотоэлектрической спектроскопии: Описание лабораторной работы
2006 · PDF
Исследование квантово-размерных гетероструктур In(Ga)As/GaAs методами фотоэлектрической спектроскопии и просвечивающей электронной микроскопии
Физика Поверхности Полупроводников
RAR
Фотоэлектрические свойства наноструктур GeSi/Si
Педагогическая психология
Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии