RUSSIAN

Исследование электронных состояний в низкоразмерных структурах методами сканирующей зондовой микроскопии

By Филатов Д.О. , Демиховский В.Я.

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
2 MB (2272480 bytes)
Pages
\77
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42
Специальные дисциплины;Наноматериалы и нанотехноло

Description

Учебно-методический материал по программе повышения квалификации «Физико-химические основы нанотехнологий». - Нижний Новгород, ННГУ, 2007. - 77 с.Рассматриваются методы визуализации пространственного распределения локальной плотности электронных квантовых состояний низкоразмерных структур и отдельных атомов с помощью сканирующей зондовой микроскопии. Излагаются основы теории сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии. Описаны результаты экспериментов, в которых проведена топография и исследована структура локальной плотности состояний в квантовых ямах, квантовых точках и в точечных квантовых контактах. Обсуждаются методы наблюдения локальной плотности состояний электронов, локализованных на отдельных атомах и в квантовых коралях. Рассматриваются методики исследования спиновых состояний отдельных атомов и групп атомов с помощью магнитной резонансно-силовой и магнитной обменно-силовой микроскопии.

Similar books