GERMAN

Wirkung hochenergetischer Strahlung auf Halbleiterbauelemente

Book information

Publisher
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Year
1989
ISBN
978-3-540-50891-5, 978-3-642-51109-7
DOI
10.1007/978-3-642-51109-7
Language
german
Format
PDF
Filesize
6 MB (6156426 bytes)
Series
Mikroelektronik
Edition
1
Pages
196\207
Orientation
yes
Scanned
yes
Time added
2013-08-01 04:00:00

Description

Mit dem rasch wachsenden Integrationsgrad mikroelektronischer Schaltungen steigt der mögliche Schaden durch hochenergetische Strahlung, insbesondere im Einsatzbereich von Luft- und Raumfahrttechnik, aber auch bei Kernreaktoren, in der Materialforschung und in der medizinischen Diagnostik und Therapie. Das Buch liefert eine fundierte Einführung, die von den physikalischen Grundlagen der Wechselwirkung von Strahlung mit Materie, über die Erklärung von Schädigungsmechanismen bis hin zur Beschreibung von Strahlungsempfindlichkeit reicht. Der starke Einfluß der verwendeten Technologie wird ebenso behandelt wie die Möglichkeit der Abschirmung und der Einfluß von Strukturverkleinerungen auf die Strahlensensibiltät.

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