GERMAN

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE

By Peter Baumann (auth.)

Book information

Publisher
Vieweg+Teubner Verlag
Year
2012
ISBN
978-3-8348-2494-3, 978-3-8348-2495-0
DOI
10.1007/978-3-8348-2495-0
Language
german
Format
PDF
Filesize
5 MB (5486265 bytes)
Edition
1
Pages
135\142
Orientation
yes
Scanned
yes
Time added
2013-08-01 04:00:00
Electrical Machines and Networks;MicrowavesElectronics and MicroelectronicsInstrumentation;Power ElectronicsRF and Optical Engineering;Electrical Engineering;

Description

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

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