Техническая диагностика

Description

Учебное пособие. под общ. ред. Ю.В. Малышенко. – Владивосток: Изд-во ВГУЭС, 2010. – 302 с. ISBN 978-5-9736-0163-8 Авторы: Малышенко Ю.В., Стыцюра Л.Ф., Саяпин Ю.Л. Учебное пособие разработано в соответствии с программой курса, а также требованиями образовательного стандарта России к учебной дисциплине «Техническая диагностика». Рассматриваются вопросы диагностирования электронных, в том числе программно-управляемых устройств. Для студентов, изучающих дисциплины, связанные с проектировани-ем и эксплуатацией электронных изделий.Содержание Введение. Основные понятия и задачи технической диагностики. Технические состояния, надежность и задачи диагностирования. Средства и системы диагностирования. Использование различных видов систем диагностирования в процессах производства электронных изделий. Модели объектов и неисправностей. Модели исправных объектов. Модели неисправных технических состояний. Таблица функций неисправностей и таблица неисправностей. Проверяемость и различимость неисправностей. Критерии оценки тестов и систем диагностирования. Виды критериев оценки. Оценка полноты контроля. Оценка глубины поиска неисправностей. Достоверность контроля. Анализ на состязания тестов цифровых схем. Методы построения тестов цифровых устройств. Понятия контролирующего и диагностического тестов. Получение тупиковых тестов с использованием таблиц неисправностей. Метод активизации одномерного пути. d-алгоритм. Построение теста по методу булевой производной. Построение теста по методу эквивалентной нормальной формы. Использование модели конечного автомата для построения тестов. Построение тестов для микропроцессорных систем. Внутрисхемное (поэлементное) диагностирование. Назначение и принципы внутрисхемного диагностирования. Принципы измерений параметров элементов с помощью вольтметров и амперметров. Особенности определения работоспособности различных элементов с помощью простейших приборов. Погрешности методов и средств измерений. Принципы и методы организации измерений параметров элементов в автоматизированных системах поэлементного диагностирования. Автоматизированные системы поэлементного диагностирования. Организация диагностирования и обслуживания микропроцессорных устройств. Особенности микропроцессора как объекта диагностирования. Общие принципы организации технического обслуживания ПЭВМ. Логические анализаторы и пробники. Внутрисхемные эмуляторы. Сигнатурный анализ. Диагностические платы. Средства отладки микропроцессорных систем. Проектирование контролепригодных устройств. Понятие и критерии контролепригодности. Контроль и восстановление информации с использованием кодирования. Схемные решения повышения контролепригодности. Стандарты периферийного сканирования. Тестирование программ. Основные понятия и цели тестирования. Программа как объект тестирования. Организационно-методические аспекты тестирования. Построение тестов.© Издательство Владивостокский государственный университет экономики и сервиса, 2010