RUSSIAN

Современные диагностические методы контроля качества и надежности полупроводниковых изделий

By Сергеев В.А. , Горлов М.И.

Book information

Publisher
УлГТУ
Year
2015
ISBN
978-5-9795-1470-3
Language
russian
Format
PDF
Filesize
11 MB (11605693 bytes)
Pages
\407
Time added
2017-06-04 01:20:47

Description

В монографии на основе анализа технической и патентной литературы и результатов исследований авторов за последние двадцать лет рассматриваются нестандартные методы и средства диагностического контроля качества полупроводниковых изделий, а также методы прогнозирующей оценки и классификации полупроводниковых изделий по уровню надежности. Рассчитана на специалистов электронной и радиоэлектронной отраслей промышленности, а также на студентов и аспирантов соответствующих специальностей.

Similar books