Избранные методы исследования в металловедении

Description

Пер. с нем. — М.: Металлургия, 1985. — 416 с.: ил.Описаны некоторые методы исследования, часто используемые в исследовательских лабораториях, и более редкие, применяемые в специальных случаях, как современные, так и ставшие уже классическими. Рассматриваемые методы предназначены в основном для изучения некоторых физических свойств,структуры металлов и сплавов, однако они могут быть использованы также при исследовании полимеров, неорганических неметаллических материалов и керамики, строительных материалов. Для научных и инженерно-технических работников различных отраслей промышленности: металловедов и материаловедов, геологов и минералогов. Может быть полезна студентам вузов и аспирантам соответствующих специальностей.Данное пособие, несмотря на возраст, дает важную информацию о методах исследования применяемых в настоящее время, так как физические основы методов остались прежними.Предисловие к русскому изданию.Вступление.Предисловие.Взаимосвязь структуры и свойств материалаПроблема систематизации свойств материала.Структурные факторы, влияющие на макроскопические свойства материала.Исследование состава и структуры материала.Уточнение некоторых понятий электронной структуры.Методы термодинамического исследованияВведение.Проблемы металловедения и методы термодинамического исследования.Методы калориметрического исследования.Методы исследования констант равновесия металлов и сплавов.Количественная металлографияПредмет количественной металлографии.Систематизация структуры с геометрической точки зрения.Полуколичественные методы металлографического исследования.Основные методы исследования.Рекомендации по фотографированию и изображению структуры для определения распределения по размерам.Вспомогательные средства и приборы количественной металлографии.Примеры использования методов количественной металлографии.Рентгеноструктурный анализОсновы.Исследование поликристаллических образцов.Анализ дифракции рентгеновских лучей.Дифракция нейтроновОсновы.Экспериментальная часть.Исследования структуры кристаллов.Фазовый анализ.Исследования текстуры.Исследование магнитных моментов и структур.Просвечивающая электронная микроскопияВведение.Подготовка образцов.Оборудование.Электронно-микроскопическое изображение.Области использования.Рентгеноспектральный микроанализ и растровая электронная микроскопияВведение.Основы электронно-зондового микроанализа.Устройство приборов.Растровая электронная микроскопия.Рентгеноспектральный микроанализ.Масс-спектрометрия вторичных ионов и ионный микроанализВведение.Основы масс-спектрометрии вторичных ионов.Аппаратура.Применение метода ВИМС.Фотоэлектронная спектроскопияПринципы фотоэлектронной спектроскопии твердых тел.Аппаратура для получения ФЭС-спектров.Получение ЭСХА-спектров.Оже-электронная спектроскопияОсновные положения.Экспериментальная техника.Применение при изучении материалов.Мёссбауэровская спектроскопияОсновы.Экспериментальные аспекты.Возможности применения.Аннигиляция позитроновВведение.Основы метода.Техника измерения.Теория аннигиляции позитронов в реальных кристаллах.Применение метода аннигиляции позитронов для исследования дефектов кристаллической решетки в металлах.Библиографический список