Рентгеновский анализ микронапряжений и размера областей когерентного рассеяния в поликристаллических материалах
Book information
Description
Екатеринбург. ГОУ−ВПО УГТУ−УПИ. 2005. 23 стр.Свойства конкретного поликристаллического материала или порошка из кристаллических зерен существенно зависят от размера кристалликов и от напряжений, возникающих в них. Обе характеристики материала зависят от условий получения материала и тех воздействий, которым данный материал подвергался. Роль таких воздействий могут играть, например, температура и механические воздействия. Оценить размер кристалликов и определить напряжения, имеющие место в данном образце кристаллического материала, можно используя метод дифракции рентгеновских лучей.
Similar books
Спектральные методы исследований
Теоретические основы рентгеновской спектроскопии
Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1
Neutron Generators for Analytical Purposes
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение
Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля
DOC
Оптика рентгеновых лучей
DJVU