RUSSIAN

Сравнительный анализ современных технологий разработки тестов для моделей аппаратного обеспечения

By Губенко Я.С. , Камкин А.С. , Чупилко М.М.

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
401 kB (410560 bytes)
Pages
\9
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42
Информатика и вычислительная техника;Технология пр

Description

М.: Институт системного программирования РАН, 2009. – 9 с.Работа представляет собой сравнительный анализ современных подходов к разработке функциональных тестов для моделей аппаратуры: AVM (Advanced Verification Methodology) от компании Mentor Graphics, OVM (Open Verification Methodology) — совместной разработки Mentor Graphics и Cadence Design Systems — и технологии UniTESK (Unified TEsting and Specification tool Kit), разработанной в Институте системного программирования РАН. В статье анализируются сильные и слабые стороны различных подходов, сопоставляются архитектуры тестовых систем, даются рекомендации по развитию технологии UniTESK и ее унификации с методологией OVM, набирающей все большее распространение и претендующей на то, чтобы стать стандартом в области тестирования моделей аппаратного обеспечения.

Similar books