RUSSIAN

Дифракционные методы изучения материалов и приборных структур. Ионная имплантация

By Бублик В.Т. , Щербачев К.Д. , Воронова М.И. , Мильвидский А.М.

Book information

Publisher
Издательство "МИСИС"
Year
2013
ISBN
978-5-87623-695-1
Language
russian
Format
PDF
Filesize
47 MB (49612654 bytes)
Pages
67\67
Time added
2017-04-20 00:00:00
Инженерно-технические науки;Металлургия

Description

В пособии кратко изложены теоретические основы дифракционных методов изучения структуры поверхности и основы дифрактометрии высокого разрешения, рассмотренной в качестве основного инструментального метода. Содержание пособия соответствует лекционному курсу «Дифракционные методы изучения поверхности и приборных структур», предназначенному для подготовки магистров и бакалавров по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», а также по направлению подготовки аспирантов 01.04.10 «Физика полупроводников». Необходимость издания пособия определяется тем, что по указанной тематике учебная литература отсутствует. Предназначено для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов», по специальности 150601 «Материаловедение и технология новых материалов».;Гриф:Рекомендовано редакционно-издательским советом университета

Similar books