Анализ поверхности методами оже - и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
Book information
Description
— М.: Мир, 1987. - 600 с., ил Книга известных специалистов из Великобритании, США, ФРГ и Канады представляет собой детальное и конкретное руководства по применению оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии для анализа поверхности. Она является первой учебно-справочной монографией, в которой обобщены результаты огромного числа публикаций по этим вопросам. В первых пяти главах изложены необходимые научные основы методов, в гл. 6—10 рассмотрены их основные применения в важнейших областях современной техники.Для физиков и химиков, занимающихся исследованиями поверхности, инженеров, связанных с технологией работ, аспирантов и студентов.
Similar books
Спектральные методы исследований
Теоретические основы рентгеновской спектроскопии
Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1
Neutron Generators for Analytical Purposes
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение
Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля
DOC
Оптика рентгеновых лучей
DJVU