Полевая ионная микроскопия

Description

М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр.Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного микроскопа и атомного зонда. Обсуждены научные приложения полевой ионной микроскопии и атомного зонда. Книга написана ведущими в мире специалистами по полевой ионной микроскопии:основателем этой методики профессором Э. Мюллером и профессором Т. Цонгом.Краткое содержание:Новые приборы и методики: усиление яркости изображения, атомный зонд.Полевая ионизация и процесс изображения: основной физический механизм, теория полевой ионизации, адсорбция благородных газов, энергетическое распределение.Полевое испарение: основной механизм, модель сил изображения, скорость испарения.Некоторые приложения: поверхностная диффузия, атомная реконструкция поверхности.Дополнение.