Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений: Учебное пособие для студентов специальности 0709.00 и направлений 5104.3 и 5104.11

Description

В пособии рассматриваются методы анализа субструктуры (средний размер блоков, распределение блоков по размерам, угол разориентировки между блоками, величина микродеформаций решетки и плотность дислокаций) по профилю и интенсивности рентгеновских дифракционных линий. Большое внимание уделено изложению результатов исследований последних лет, в которых предложено определение параметров субструктуры по профилю одной линии и с помощью аппроксимации профилей функцией Фойгта. Описаны основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей кристаллами, содержащими дислокации и др.угие дефекты второго класса по классификации М.А. Кривоглаза. Пособие по специальному курсу «Дифракционные методы исследования» предназначено для студентов специальности 07090.00 и направлений 5104.03 и 5104.11, а также может быть использовано студентами и аспирантами, выполняющими НИР в области материаловедения. text(527).doc ПРЕДИСЛОВИЕ 1. НЕКОТОРЫЕ ПРИНЦИПЫ РАССЕЯНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ЛУЧЕЙ КРИСТАЛЛАМИ 2. АНАЛИЗ ТОНКОЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ ПО ПРОФИЛЮ НЕСКОЛЬКИХ РЕНТГЕНОВСКИХ ОТРАЖЕНИЙ 2.1. Метод аппроксимации профиля линии 2.2. Метод гармонического анализа профиля линии 2.2.1. Вывод выражения для описания профиля линии 2.2.2. Связь параметров ТКС кристалла с КФ 2.3. Определение параметров ТКС без расчета КФ 2.4. Анализ дислокаций по ширине и профилю рентгеновских линий 2.4.1. Анализ по интегральной ширине линии Значение ориентационного фактора для винтовых, fв, и краевых, fк, дислокаций при коэффициенте Пуассона ( = 1/3 Значения ориентационного фактора для винтовой дислокации, fв, в Zr 2.4.2. Анализ по профилю линии 3. АНАЛИЗ ПАРАМЕТРОВ ТКС ПО ПРОФИЛЮ ОДНОЙ ЛИНИИ Параметры ТКС для порошков Ni и Nb 4. ПРАКТИЧЕСКИЕ АСПЕКТЫ АНАЛИЗА ТКС ПО ПРОФИЛЮ ЛИНИИ 5. АНАЛИЗ ТКС ПО ИНТЕГРАЛЬНОЙ ИНТЕНСИВНОСТИ ДИФРАКЦИОННЫХ МАКСИМУМОВ 5.1. Экстинкционный параметр 5.2. Связь экстинкционного параметра с параметрами ТКС 5.2.1. Модель «мозаичного» кристалла 5.2.2. Модель кристалла с выделенной «кинематической» областью вокруг дислокации Величина «весового» множителя G 5.2.3. Модель кристалла, основанная на перенормировке статического фактора 5.3. Основные принципы статистической динамической теории рассеяния рентгеновских лучей реальными кристаллами 5.3.1. Статистическое описание поля смещений 5.3.2. Статистическое описание рассеяния 5.3.2.1. Когерентное рассеяние 5.3.2.2. Диффузное рассеяние 6. ПРИМЕРЫ АНАЛИЗА СУБСТРУКТУРЫ 6.1. Анализ по профилю линий Данные для анализа субструктуры порошка ниобия Анализ по паре линий 110 – 220 Анализ по одной линии 110 6.2. Анализ по интенсивности линий Анализ субструктуры отожженных опилок (-Fe по экстинкции HKL Определение плотности дислокаций ( по экстинкции БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК