GERMAN

Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen: Simulation mit PSPICE

By Peter Baumann

Book information

Publisher
Springer Fachmedien Wiesbaden;Springer Vieweg
Year
2019
ISBN
978-3-658-26573-1, 978-3-658-26574-8
Language
german
Format
PDF
Filesize
8 MB (8454304 bytes)
Edition
2. Aufl. 2019
Pages
XI, 187\192
Time added
2020-02-08 04:42:30
Electrical Machines and Networks; MicrowavesEngineering; Electronics and MicroelectronicsInstrumentation; Power ElectronicsRF and Optical Engineering; Electronic Circuits an

Description

Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. Front Matter ....Pages I-XI Halbleiterdioden (Peter Baumann)....Pages 1-14 Bipolartransistoren (Peter Baumann)....Pages 15-42 Sperrschicht-Feldeffekttransistoren (Peter Baumann)....Pages 43-59 MOS-Feldeffekttransistoren (Peter Baumann)....Pages 61-77 Leistungs-MOS-Feldeffekttransistor (Peter Baumann)....Pages 79-89 Operationsverstärker (Peter Baumann)....Pages 91-110 Optokoppler (Peter Baumann)....Pages 111-143 Sensoren (Peter Baumann)....Pages 145-183 Back Matter ....Pages 185-187

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