RUSSIAN

№573 Специальные методы изучения и контроля структуры и свойств полупроводников и компонентов электронной техники. Разд.: Диффузное рассеяние: курс лекций

By В. Т. , Бублик

Book information

Publisher
МИСИС
Year
1990
Language
russian
Format
PDF
Filesize
51 MB (53537493 bytes)
Pages
\100
Time added
2020-10-15 06:02:45

Similar books