Skip to content
NovaLib
  • Sample Page
  • library
NovaLib
  • Sample Page
Library / Микроскопические методы исследования материалов

File hashes

MD5
8bba398e32a08575bc3b1fe3bcac64c7
SHA1
GYCXK2MHF6SWYEPWAWK63TQGCVDC4C24
SHA256
c1f132d1a4e43c8f6b148d9d6d3b7020 4e733d3cc3a00e78bb369997f610331d
AICH
JYW7LNDDIQIC42IUZODGQC2ITE6ZJ3JL
CRC32
f59b6132
eDonkey
637cba46684430f3bd565d52e770f36e
TTH
MQO7TPN72W3ITHVOVZ6JGPFGGTDPXBRTADHWKPA

Available files

  • DJVU

Download Link

Direct link IPFS Cloudflare Pinata
RUSSIAN

Микроскопические методы исследования материалов

By Кларк Э.Р. , Эберхардт К.Н.

Book information

Publisher
ТЕХНОСФЕРА РИЦ
Year
2007
ISBN
5-94836-121-7, 978-5-94836-121-5
Language
russian
Format
DJVU
Filesize
32 MB (33231776 bytes)
Series
Мир материалов и технологий
Pages
375\375
Topic
Physics
Time added
2015-02-07 14:22:27
Физика;Практикумыэкспериментальная физика и физические методы иссле

Similar books

Спектральные методы исследований

Спектральные методы исследований

PDF

Теоретические основы рентгеновской спектроскопии

Теоретические основы рентгеновской спектроскопии

PDF

Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1

Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1

PDF

Neutron Generators for Analytical Purposes

Neutron Generators for Analytical Purposes

PDF

Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение

Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение

PDF

Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля

Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля

DOC

Оптика рентгеновых лучей

Оптика рентгеновых лучей

DJVU

Фізичні основи інформаційних систем. Навчальний посібник

Фізичні основи інформаційних систем. Навчальний посібник

PDF

Copyright © 2026 NovaLib | Powered by Astra WordPress Theme