RUSSIAN

Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии

By Яфаров Р.К. , Усанов Д.А.

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
914 kB (935805 bytes)
Pages
\15
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42
Специальные дисциплины;Наноматериалы и нанотехноло

Description

Учебное пособие для студ. фак. Нано- и биомедицинских технологий. – Саратов, СГУ, 2007. - 51 с.Учебное пособие представляет собой руководство к практическим занятия по курсу "Физика полупроводников». Содержит расширенное описание материала, знание которого необходимо при выполнении лабораторной работы по исследованию поверхности материалов методами сканирующей зондовой микроскопии.Для студентов, обучающихся по направлению «Электроника и микроэлектроника», специальностям «Физика твердого тела», «Физика», «Медицинская физика», «Материалы и компоненты твердотельной электроники», «Микроэлектроника и полупроводниковые приборы», "Микроэлектроника и твердотельная электроника», «Нанотехнологии в электронике".

Similar books