RUSSIAN

Учебное пособие по дисциплине Оптические методы исследования в материаловедении

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
2 MB (2234604 bytes)
Pages
\125
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42

Description

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы" [Электронный ресурс], 2008. — 125 с.Оптические методы широко используются в исследованиях различных свойств материалов, поскольку от этих свойств могут зависеть характеристики фиксируемого излучения. Преимущества оптических методов состоят в возможности получать информацию об объекте, не прибегая к физическому контакту с ним, как правило, оптические методы позволяют наблюдать за протеканием процессов в материале в режиме реального времени. Использование оптического метода подразумевает: во-первых, установление связи между параметрами излучения и свойствами материала; во-вторых, использование оптических устройств для измерения параметров излучения; в-третьих, восстановление свойств материала по параметрам излучения от него.ВведениеЭлектромагнитные волны. Способы описанияСвойства электромагнитных волнЭнергия плоской волныПоляризацияПараметры СтоксаМетоды измерения поляризации волныЭллипсометрияОсновные соотношения, используемые в эллипсометрииВывод основных соотношений между параметрами эллипсометрии и оптическими свойствами пленки на подложкеПример расчета зависимостей параметров эллипсометрии от величины комплексного показателя преломления пленки на подложкеИнструменты эллипсометрииМодели эллипсометриииПланарные матмодели ОИ в традиционной эллипсометрииСвойства решений ОУЭ для простой оптической модели ОИРазвитие нетрадиционных методов прикладной эллипсометрииНПВО - эллипсометрияСпекл Uфэу - эллипсометрияТрансформация инвариантов Френеля-Брюстера для модели однородного слояЭллипсометрия скрытых азимутальных девиацийРелаксационная Uфэу – эллипсометрияКомпьютерное моделирование свойств решений прямой задачи эллипсометрии для однородного слояТиповые решения прямой задачи ОУЭ для однородного слояКонтрольные примеры решений ОУЭ для однослойной моделиСвойства решений обратной задачи эллипсометрии для слояОбратная оптическая задачаСверхразрешение в фазовых изображенияхМодель фазового объектаСингулярности и критерий разрешения в фазовых изображенияхСингулярности и сверхразрешение в фазовых изображенияхЗаключение по теме «Сверхразрешение»Список литературы

Similar books