Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3
Book information
Description
Конспект лекций. - М.: МИСиС, 2007. - 41 с.Третья часть конспекта лекций посвящена описанию теоретических основ метода просвечивающей электронной микроскопии.СодержаниеПросвечивающая электронная микроскопия Формирование изображения в просвечивающем электронном микроскопе (ПЭМ)Основные типы контраста в ПЭМОсновы кинематической теории дифракционного контрастаПринципы динамической теории (двухлучевой случай)Контраст на кристаллах с дефектамиАнализ гетерогенного сплава (матричный контраст)Контраст собственно на включениях
Similar books
Спектральные методы исследований
Теоретические основы рентгеновской спектроскопии
Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1
Neutron Generators for Analytical Purposes
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение
Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля
DOC
Оптика рентгеновых лучей
DJVU