Методы измерений в волоконной оптике

Description

Учеб. пособие / А.И. Цаплин, М.Е. Лихачев; под общ. ред. д-ра техн. наук., проф. А.И. Цаплина. – Пермь: Изд-во Перм. нац. исслед. политехн. ун-та, 2011. – 227 с. – ISBN 978-5-398-00727-5.Рассмотрены основные понятия, проблемы стандартизации и метрологии в волоконной оптике, необходимые для изучения курса «Методы измерений в волоконной оптике» в техническом вузе. Приведены стандартные методы измерений в оптических волокнах, рассмотрены методы оценки погрешностей измерений, особенности измерений с учетом их микро- и наноструктурирования. Предназначено для магистров по направлению «Фотоника и оптоинформатика», обучающихся по профилю «Волоконная оптика».СодержаниеВолоконная оптика: основные понятия История развития волоконной оптики Основные характеристики в волоконной оптике Категории оптических волокон Вопросы для самоконтроля Стандартизация в волоконной оптике Стандартизация как элемент системы технического регулирования Особенности стандартизации в волоконной оптике Работа российских и зарубежных организаций по стандартизации в волоконной оптике Вопросы для самоконтроля Метрология в волоконной оптике Обеспечение единства измерений в системе технического регулирования Особенности измерений в волоконной оптике Метрологическое обеспечение единства и качества измерений Контроль, измерения и тестирование волоконной оптики Основные понятия и определения Методы контроля и измерения физических величин Оценка погрешности измерений Методы измерений в волоконной оптике Измерение параметров оптического волокна Методы определения размеров волокна Методы измерения механических характеристик Методы измерения затухания Методы измерения ширины полосы пропускания Числовая апертура. Распределение света в дальнем поле Методы определения характеристик при испытаниях на воздействие внешних факторов Изменение спектральных характеристик Измерение дисперсии Измерения в микро- и наноструктурированных волокнах Особенности измерений в области нанотехнологий Методы измерений, применяемые в нанометрологии Метрологическое обеспечение измерений в нанотехнологиях