Программа дисциплины Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии

Description

Екатеринбург: Уральский государственный университет им. А. М. Горького, ИОНЦ "Нанотехнологии и перспективные материалы", 2008. — 13 с.Программа специальной дисциплины «Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии» составлены в соответствии с требованиями регионального компонента к обязательному минимуму содержания и уровню подготовки бакалавров по направлению 210600 «Нанотехнология» по циклу «Специальные дисциплины и/или дисциплины специализации» государственного образовательного стандарта высшего профессионального образования.Курс «Исследование наноматериалов методами сканирующей электронной микроскопии» рассчитан на студентов 4-го курса, обучающихся на физическом и химическом факультетах Уральского государственного университета им. А.М. Горького.ВведениеМесто дисциплины в системе высшего профессионального образованияТребования к уровню освоения содержания курсаМетодическая новизна курсаСодержание курсаТемы и их краткое содержаниеВзаимодействие электронного пучка с веществомОбщее устройство сканирующего электронного микроскопаФормирование изображения в сканирующем электронном микроскопеРазновидности сканирующей электронной микроскопииРентгеноспектральный анализ в сканирующей электронной микроскопииАнализ дифракции обратно рассеянных электроновСканирующая электронная микроскопия с ионными пучками, приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии и манипуляторыЭлектронная литография и электронная микроскопияИспользование сканирующей электронной микроскопии для получения и исследования наноструктур, материаловСпециальное программное обеспечениеОсновные производители электронных микроскопов и варианты приборов, приставок и принадлежностей к нимПримерный перечень вопросов для самоконтроляПримерный перечень вопросов к зачетуРаспределение часов курса по темам и видам работФорма итогового контроляУчебно-методическое обеспечение курсаРекомендуемая литератураWWW-Микроскопия. Информационные источники по вопросам световой и электронной микроскопииWWW-Электронная микроскопия. Научные журналы, публикации