RUSSIAN

Современные методы исследования поверхности твердых тел: Фотоэлектронная спектроскопия и дифракция, СТМ-микроскопия

By Кузнецов М.В.

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
5 MB (4989705 bytes)
Pages
\43
Topic
Physics
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42
Физика;Практикумыэкспериментальная физика и физические методы иссле

Description

Екатеринбург: Ин-т химии твердого тела УрО РАН, 2010. – 43 с. В настоящем разделе дан обзор современных методов исследования поверхности твердых тел. В качестве примера рассмотрены ключевые методы, представляющие три условных направления анализа поверхности: спектроскопию (РФЭС, ЭОС), дифракцию (РФД, ДМЭ) и микроскопию (СТМ, АСМ). Совместно данные методы позволяют изучать химический состав и структуру поверхности, исследовать электронную структуру твердых тел, получать изображения поверхности с атомарным разрешением, манипулировать атомами на поверхности и изучать процессы, протекающие на поверхности.

Similar books