Спектроскопия и дифракция электронов при исследовании поверхности твёрдых тел
Book information
Description
В.Ф. Кулешов, Ю.А. Кухаренко, С.А. Фридрихов и др.— М.: Наука, 1985 — 290 с. В книге рассмотрены вопросы теории и применения современных методов исследования состояния поверхности, основанных на использовании электронных пучков. Подробно описаны особенности следующих методов: характеристических потерь энергии при отражении электронов от поверхности твердых тел; электронной оже-спектроскопии; дифракции медленных электронов; дифракции быстрых электронов на отражение. Изложены основные теоретические закономерности упругого и неупругого взаимодействия электронов с веществом и различные экспериментальные методы исследования поверхности твердого тела. Издание предназначено для широкого круга инженеров и научных сотрудников, занимающихся проблемами физики и химии поверхности твердых тел и электронной спектроскопии поверхности.
Similar books
Спектральные методы исследований
Теоретические основы рентгеновской спектроскопии
Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1
Neutron Generators for Analytical Purposes
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение
Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля
DOC
Оптика рентгеновых лучей
DJVU