Экспериментальная электронная микроскопия высокого разрешения
Book information
Description
Пер. с англ./Под ред. В.Н. Рожанского. М., Наука, Гл. ред. физ.-мат. лит. 1986. - 320 с. Изложены теоретические и экспериментальные аспекты электронной микроскопии высокого разрешения. Рассмотрены физические основы формирования электронно-микроскопического изображения как периодических (кристаллические структуры), так и непериодических (отдельные молекулы и атомы) объектов, и влияние различных факторов на его разрешение. Для научных сотрудников, инженеров, аспирантов и студентов, специализирующихся в области изучения тонкой структуры различных объектов.
Similar books
Спектральные методы исследований
Теоретические основы рентгеновской спектроскопии
Ćwiczenia laboratoryjne z fizyki. Cz. 1
Neutron Generators for Analytical Purposes
Рентгенография. Физические основы метода и практическое приложение
Тексты лекций по дисциплине Электрофизические методы и приборы контроля
DOC
Оптика рентгеновых лучей
DJVU