RUSSIAN

№1216 Методы исследования структуры полупроводников: Электронография. Рентгеновская и электронная микроскопия: лаб. практикум

By Г. М. , Бублик , В. Т.; Зимичева

Book information

Publisher
МИСИС
Year
1986
Language
russian
Format
PDF
Filesize
51 MB (53056436 bytes)
Pages
\96
Time added
2020-10-15 05:56:42

Similar books