Измерение параметров приборов оптоэлектроники

Description

Приведена классификация приборов некогерентной оптоэлектроники и определена оптимальная система параметров. Рассмотрены методы измерения параметров и основы проектирования информационно-измерительных комплексов, управляемых ЭВМ. Обсуждено метрологическое обеспечение разработок и производства приборов некогерентной оптоэлектроники. Разработаны научно-методические основы метрологического обеспечения предприятия. Предисловие......Page 4 Введение......Page 7 1.1. Некогерентная оптоэлектроника—направление функциональной электроники......Page 10 1.2. Приборы некогерентной оптоэлектроники......Page 19 1.3. Классификация. Термины и определения......Page 34 1.4. Принципы разработки системы параметров......Page 36 1.5. Разработка системы параметров приборов некогерентной оптоэлектроники Г......Page 54 2.1. Излучение оптического диапазона......Page 59 2.2. Энергетические и световые характеристики излучения......Page 65 2.3. Характеристики зрительного восприятия......Page 73 3.1. Инжекционные источники излучения......Page 80 3.2. Приемники некогерентного излучения......Page 94 3.3. Согласование спектральных характеристик фотоприемника с параметрами излучения......Page 110 4.1. Система параметров......Page 113 4.2. Методы измерения параметров......Page 114 5.1. Система параметров......Page 127 5.2. Методы измерения параметров......Page 129 6.1. Системы параметров......Page 139 6.2. Методы измерения параметров......Page 141 6.3. Эквивалентные параметры оптолары как многополюсника......Page 148 7.1. Стандартные измерители фотометрических параметров излучателей......Page 153 7.2. Измерители спектрального состава некогерентного излучения, спектральной чувствительности фотоприемников и фотопреобразователей......Page 163 7.3. Совершенствование метрологических характеристик стандартных фотометров для использования их в производстве некогерентной оптоэлектроники......Page 166 7.4. Нестандартные измерители фотометрических параметров......Page 171 7.5. Измерители электрических и временных параметров......Page 180 8.1. Принципы построения систем автоматического контроля приборов некогерентной оптоэлектроники......Page 190 8.2. Автоматизация измерения электрических параметров......Page 201 8.3. Автоматизация измерений фотометрических параметров......Page 205 8.4. Расчет спектральных характеристик фотопреобразователей......Page 213 8.5. Энергетический расчет фотопреобразователя......Page 221 8.6. Согласование фотоприемника с электронным трактом излучения......Page 225 8.7. Расчет геометрических параметров фотопреобразователя......Page 232 8.8. Погрешности измерения электрических и фотометтрических параметров......Page 237 8.9. Информационно-измерительные комплексы, управляемые 3BIM, для контроля параметров излучателей и индикаторов визуального отображения информации......Page 240 8.10. Информационно-измерительные системы, управляемые ЭВМ,, для контроля параметров оптопар и сптоэлектронных микросхем......Page 245 9.1. Проблемы метрологического обеспечения промышленного предприятия при производстве изделий некогерентной оптоэлектроники......Page 259 9.2. ПУВТ и отраслевая поверочная схема для средств измерений силы света излучающих оптоэлектронных приборов......Page 273 9.3. ПУВТ и отраслевая поверочная схема для воспроизведения и передачи размера единицы относительной спектральной чувствительности рабочим фотометрам......Page 287 9.4. Проблемы метрологического обеспечения измерительного контроля параметров изделий электронной техники......Page 299 9.5. Система метрологического обеспечения промышленного предприятия......Page 314 9.6. Методы нормирования показателей точности средств измерений в условиях полупроводникового производства изделий электронной техники......Page 321 10.1. Полупроводниковые материалы для излучателей видимого и ИК диапазонов......Page 331 10.2. Основные характеристики и критерии выбора полупроводниковых материалов для фотоприемников......Page 336 10.3. Система параметров полупроводниковых материалов некогерентной оптоэлектроники......Page 339 10.4. Метрологическое обеспечение производства полупроводниковых материалов некогерентной отттоэлектроники......Page 342 Список литературы......Page 352 Предметный указатель......Page 361