RUSSIAN

Основы сканирующей зондовой микроскопии

Book information

Publisher
Техносфера
Year
2005
ISBN
5-94836-034-2
Language
russian
Format
PDF
Filesize
19 MB (19709128 bytes)
Series
Мир физики и техники
Pages
\140
Time added
2017-07-23 14:02:36

Description

Первое учебное пособие на русском языке, охватывающее всю область принципиально новых приборов для изучения поверхности твердых тел и наноструктур - от туннельных до атомно-силовых и магнитно-силовых микроскопов. Подробно описаны применяемые конструкции и схемные решения аппаратуры, особенности применения. Для студентов и преподавателей физических, приборостроительных и материаловедческих специальностей.

Similar books