GERMAN

Mustererkennung 2000: 22. DAGM-Symposium. Kiel, 13.–15. September 2000

By Gerald Sommer , V. Kumar , N. Navab , M. Appel , Y. Genc , B. Bascle , M. Neuberger (auth.) , Norbert Krüger , Christian Perwass (eds.)

Book information

Publisher
Springer-Verlag Berlin Heidelberg
Year
2000
ISBN
978-3-540-67886-1, 978-3-642-59802-9
DOI
10.1007/978-3-642-59802-9
Language
german
Format
PDF
Filesize
29 MB (30284927 bytes)
Series
Informatik aktuell
Edition
1
Pages
490\504
Orientation
yes
Scanned
yes
Time added
2013-08-01 04:00:00
Pattern Recognition

Description

Die Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung veranstaltet seit 1978 jährlich an verschiedenen Orten ein wissenschaftliches Symposium mit dem Ziel, Aufgabenstellungen, Denkweisen und Forschungsergebnisse aus den Gebieten der Mustererkennung vorzustellen, den Erfahrungs- und Ideenaustausch zwischen den Fachleuten anzuregen und den Nachwuchs zu fördern. In dem dieses Jahr erstmals durchgeführten Kontaktforum unter dem Titel "Forum Industrie und Wissenschaft" findet der Austausch von Industrie und Wirtschaft besondere Beachtung.

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