RUSSIAN

Методы сканирующей зондовой микроскопии при исследовании структуры и свойств органических материалов

By Галиев А.Ф. , Корнилов В. М.

Book information

Year
2016
Language
russian
Format
ZIP
Filesize
2 MB (2210134 bytes)
Pages
0\0
Time added
2021-06-08 22:10:36

Description

Учебно-методический комплекс включает историю создания основных методов сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ) и их принцип работы. Так же приводится примеры приложения некоторых методов СЗМ при исследовании структуры и свойств органических материалов и композитов на их основе. Учебно-методический комплекс предназначен для старших курсов специальности 210100 «Электроника и наноэлектроника» Учебно-методический комплекс выполнен в рамках базовой части государственного задания в сфере научной деятельности Минобрнауки России по проекту №744 «Транспорт носителей заряда в субмикронных пленках полимерных диэлектриков при нестационарных граничных условиях в гетероструктуре металл/полимер/металл ».

Similar books