RUSSIAN

Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти

Book information

Language
russian
Format
PDF
Filesize
16 MB (16584659 bytes)
Pages
\269
Library
twirpx
Time added
2017-08-07 07:01:42

Description

Мн.: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. В монографии рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти (МП). Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. Изложена методика прогнозирующего расчета выхода годных и надежности избыточных МП. Предложены методы построения и схемотехнические решения устройств нейтрализации ошибок, основанные на резервировании корректирующих кодов. Предназначена для научно-технических работников, специализирующихся в области создания полупроводниковой памяти. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов вузов соответствующих специальностей.

Similar books