Избыточность в полупроводниковых интегральных микросхемах памяти
Book information
Description
Мн.: Навука і тэхніка, 1995. − 262 с. В монографии рассмотрены вопросы разработки и производства избыточных полупроводниковых микросхем памяти (МП). Описаны математические модели распределения статистически независимых и группирующихся дефектных и отказавших элементов на кристаллах МП, построенные на базе обширных статистических данных о характере и причинах возникновения неисправностей. Изложена методика прогнозирующего расчета выхода годных и надежности избыточных МП. Предложены методы построения и схемотехнические решения устройств нейтрализации ошибок, основанные на резервировании корректирующих кодов. Предназначена для научно-технических работников, специализирующихся в области создания полупроводниковой памяти. Может быть полезна преподавателям, аспирантам и студентам старших курсов вузов соответствующих специальностей.
Similar books
Диоды, тиристоры, транзисторы и микросхемы широкого применения. Справочник
Магнитодиоды. Полупроводниковые приборы с высокой магниточувствительностью
DJVU
Нелинейные полупроводниковые сопротивления (варисторы)
Моделирование вольт-амперных характеристик солнечных элементов и солнечных батарей
Неустойчивости и расслоения тока в полупроводниковых структурах
Ohmic contacts to semiconductor
DJVU